JTAG

資料

IEEE Std 1149.1 (JTAG) Testability Primer 1997 TEXAS INSTRUMENTS※必読入門書。よくあるJTAGデバイスの構造よりもこっちがわかりやすい。

XILINX XAPP067(日本語版も有り)※SVFの日本語解説

Interface 2005-02 P159 JTAG徹底活用研究(1) JTAGとは何か？※必読入門
Interface 2005-03 P167 JTAG徹底活用研究(2) JTAG制御方法の実際※必読実例有り
Interface 2005-05 P166 JTAG徹底活用研究(3) JTAGによるデバイス・プログラミング
Interface 2005-07 P152 JTAG徹底活用研究(4) JTAGによるフラッシュ・メモリへの書き込み
Interface 2005-09 P172 JTAG徹底活用研究(5) JTAGによるCPUデバッグ機能の詳細
Interface 2005-10 P159 JTAG徹底活用研究(6) JTAG制御ソフトウェアMITOUJTAGの活用法

JTAG概要

IEEE Std 1149.1 (JTAG) Testability Primer 1997 TEXAS INSTRUMENTS

端子

TDI	I	データ入力
TCK	I	クロック
TDO	O	データ出力
TMS	I	TAPコントローラの状態遷移

TAPコントローラの状態遷移

TMSをTCK立ち上がりで遷移

Captureステートシフレジに値がロード。
バウンダリスキャンレジスタが選択されていれば各I/O端子の値。
命令レジスタが選択されていればIRステータス・ワード
Shiftステート TDI→シフレジ→TDO
Updateステートシフレジの値をIC内部回路にロード
バウンダリスキャンレジスタが選択されていれば各I/O端子
命令レジスタが選択されていればコマンド発行
Test-Logic-Reset どの状態からでもリセットをかけることによりこの状態へ遷移可能

JTAGコマンド

必須命令

EXTEST	デバイス外部の物理的接続をテストする	停止(テストモード)	命令はAll0
BYPASS	デバイス内部のスキャン・パスをバイパスする	通常動作	命令はAll1
SAMPLE/PRELOAD	データの取り込みと指定パターンの設定	通常動作	デバイス依存

オプション命令

INTEST	デバイス内部のロジックをテストする	停止(テストモード)
IDCODE	デバイス識別用のIDCODEを取得する	通常動作

2024-08-14 11:00:22 32400